Корпус экспертов по естественным наукам
Физика Астрономия Математика Химия и науки о материалах Биология Науки о Земле



Саранин Александр Александрович

Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН
Дальневосточный федеральный университет
Владивосток (Russian Federation)
saranin(at)iacp.dvo.ru
Ключевые слова

сканирующая туннельная микроскопия

электронная спектроскопия

наноявления на поверхности

реконструкция поверхности

Атомное строение поверхности



Специализация по классификатору

100.
   170. Физика конденсированных сред
      1701. Структура твердых тел
      1707. Строение межфазных границ, тонких пленок и низкоразмерных систем
      1714 . Гетероструктуры на основе полупроводников
      1716. Электронное строение и электрические свойства поверхностей, межфазных границ, тонких пленок и низкоразмерных систем
400. Междисциплинарный раздел
   430. Материалы и объекты
      4303. Твердые материалы, классификация по функциональным свойствам
         430301. Проводящие и сверхпроводящие материалы
            43030108. Сверхпроводящие плёнки и низкоразмерные структуры
         430302. Полупроводниковые материалы
            4303022. Одноэлементные полупроводники
      4301. Твердые материалы
         43011. Твердые материалы, классификация по микроструктуре и размерности
            4301106. Высокодисперсные материалы («нанопорошки»)
               43011061. Нанокристаллические материалы
            4301107. Покрытия и тонкие пленки
   440. Методы
      4402. Методы исследования поверхности
         44021. Микроскопические методы
            440213. Комбинированные зондовые методы
            440212. Атомно-силовая микроскопия (включая Kelvin probe)
            440211. Туннельная зондовая микроскопия и спектроскопия
      4401. Методы исследований конденсированных фаз
         44012. Микроскопические методы
О проекте Сведения для организаторов экспертизы Методика